| 标题 |
 Spectroscopic Ellipsometry of 3C-SiC Thin Films Grown on Si Substrates Using Organosilane Sources 利用有机硅烷源在Si衬底上生长3C-SiC薄膜的椭偏光谱研究
相关领域
二硅烷
材料科学
椭圆偏振法
谱线
薄膜
基质（水族馆）
电介质
分析化学（期刊）
图层（电子）
布里渊区
硅
凝聚态物理
化学
光电子学
纳米技术
海洋学
物理
地质学
色谱法
天文
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：Japanese Journal of Applied Physics 作者：Naoki Kubo; Akihiro Moritani; Kuninori Kitahara; Shuichi Asahina; Nobuyuki Kanayama; et al 出版日期：2005-06-01 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时，文件已从服务器自动删除，无法下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)
cdercder
Nole
DW
无极微光
Dean
v0id
xing_xing
随风沙ZYX
共产主义战士
aajhajkahna
秋风
OK
能不能学术一点
DOC_XIONG
那时花开
aaaa
初景
Lbw
cocohan
呵呵呵
皖公网安备34019202002308
