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 High-Resistivity Trap-Rich Silicon Substrate Advantages for Large Integrated MIM Capacitors 相关领域
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期刊：IEEE Transactions on Electron Devices 作者：Najeh Zeidi; Raoudha Gabbouj; Jean‐Pierre Raskin; Farès Tounsi; Denis Flandre 出版日期：2025-01-01 |
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