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![]() Al0.3In 0.7 N/GaN异质结构界面应变弛豫和电子束损伤阈值的透射电镜观察
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分子束外延
异质结
透射电子显微镜
铟
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期刊:Journal of Vacuum Science & Technology B Nanotechnology and Microelectronics Materials Processing Measurement and Phenomena 作者:Keisuke Motoki; Zachary Engel; Christopher M. Matthews; Habib Ahmad; Timothy M. McCrone; et al 出版日期:2022-09-01 |
求助人 |
大安吉
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2025-08-19 07:33:14 发布,悬赏 10 积分
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