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 Application of Two-Wavelength X-Ray Optical Scheme for Combined Measurements of X-Ray Specular Reflection and Diffuse Scattering to Study Multilayered Thin Film Structures 双波长X射线光学方案用于X射线镜面反射和漫射散射联合测量在研究多层薄膜结构中的应用
相关领域
反射计
镜面反射
光学
散射
波长
材料科学
漫反射
X射线
反射（计算机编程）
X射线反射率
光线追踪（物理）
表面光洁度
计算物理学
物理
计算机科学
反射率
时域
复合材料
计算机视觉
程序设计语言
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| 其它 |
期刊：Russian Microelectronics 作者：D. I. Smirnov; N. N. Gerasimenko; V. V. Ovchinnikov 出版日期：2018-03-05 |
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