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![]() 插入III-V偶极子形成层提高Si TFET性能的第一性原理研究
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其它 |
期刊:IEEE Transactions on Electron Devices 作者:Yeongjun Lim; Junbeom Seo; Mincheol Shin 出版日期:2023-05-11 |
求助人 |
微笑的安容
在
2025-08-29 15:15:35 发布,悬赏 10 积分
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