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Cross-Scale Synergistic Control of Multifields and Motions in Electrochemical Mechanical Polishing (ECMP) for Atomic-Scale GaN Surface 相关领域
薄脆饼
抛光
磨料
化学机械平面化
电化学
材料科学
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氮化镓
扫描电子显微镜
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复合数
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氮化硼
纳秒
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期刊:Langmuir 作者:Sheng‐Jie You; Zirui Wang; Zhao Ding; Kunpeng Guan; Tianyu Zhang; et al 出版日期:2025-10-09 |
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