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  A Review of Reliability in Gate-All-Around Nanosheet Devices 相关领域
随时间变化的栅氧化层击穿
纳米片
可靠性（半导体）
MOSFET
晶体管
材料科学
CMOS芯片
栅氧化层
光电子学
缩放比例
热载流子注入
场效应晶体管
栅极电介质
节点（物理）
电子工程
纳米技术
电气工程
工程类
功率（物理）
物理
电压
几何学
数学
结构工程
量子力学
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(2025-6-4)
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