| 标题 |
Influence of the carrier behaviors in p-GaN gate on the threshold voltage instability in the normally off high electron mobility transistor 相关领域
阈值电压
材料科学
晶体管
光电子学
不稳定性
电子迁移率
电容
负偏压温度不稳定性
电压
电气工程
化学
物理
电极
物理化学
机械
工程类
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Applied Physics Letters 作者:Xin Chen; Yaozong Zhong; Yu Zhou; S. S. Su; Shumeng Yan; et al 出版日期:2021-08-09 |
| 求助人 | |
| 下载 | |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)