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  Monitoring chip-branches failure of multichip IGBT module using change rate of gate voltage 利用栅极电压变化率监测多片IGBT模块的片支故障
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期刊：Energy Reports 作者：Kaihong Wang; Yanjin Yan; Jihong Zhao; Yidi Zhu; Longsheng Zhang 出版日期：2023-04-20 |
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