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 Photo-induced electron paramagnetic resonance: A means to identify defects and the defect level throughout the bandgap of ultrawide bandgap semiconductors 光诱导电子顺磁共振：一种识别超宽带隙半导体缺陷和缺陷能级的方法
相关领域
带隙
半导体
材料科学
光电子学
宽禁带半导体
电子顺磁共振
晶体缺陷
纳米技术
凝聚态物理
物理
核磁共振
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期刊：Applied Physics Letters 作者：M. E. Zvanut; Md Shafiqul Islam Mollik; Mackenzie Siford; Suman Bhandari 出版日期：2024-01-22 |
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