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 Self-healing behaviors of metallized high-temperature dielectric films for capacitor applications 电容器用金属化高温介质膜的自愈合行为
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期刊：Microelectronics Reliability 作者：Jiafeng Zhu; Hui Tong; Shimo Cao; Jinpeng Luo; Xuepeng Liu; et al 出版日期：2023-05-01 |
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