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  Effect of High-k Passivation Layer on High Voltage Properties of GaN Metal-Insulator-Semiconductor Devices 高k钝化层对GaN金属-绝缘体-半导体器件高压性能的影响
相关领域
钝化
材料科学
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期刊：IEEE Access 作者：Yutao Cai; Yang Wang; Ye Liang; Yuanlei Zhang; Wen Liu; et al 出版日期：2020-01-01 |
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