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A Technological Study Examining the Implementation of Sub-15 μm Finelines using Photoimageable Thick-Film Pastes on Low-Temperature Cofired Ceramics |
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期刊:2025 International Spring Seminar on Electronics Technology (ISSE) 作者:Uwe Ziegler; Nesrine Jaziri; Lynn Ratajczak; Kathrin Reinhardt; Stefan Körner; et al 出版日期:2025-05-14 |
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