标题 |
![]() 通过密度泛函理论计算揭示超薄Si{111}和{112}表面层的类金属能带结构
相关领域
半金属
材料科学
电子能带结构
带隙
面(心理学)
直接和间接带隙
密度泛函理论
准费米能级
凝聚态物理
半导体
硅
带材弯曲
分子物理学
化学
计算化学
光电子学
物理
心理学
社会心理学
人格
五大性格特征
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:Chemistry - A European Journal 作者:Chih‐Shan Tan; Michael H. Huang 出版日期:2017-07-11 |
求助人 | |
下载 | |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|
iamleopeng
Lv5 求助人 关闭了本次求助。
说明 nobody helps【积分已退回】
科研通AI2.0
机器人 未找到该文献,机器人已退出,请等待人工下载
15:20:30 未找到该文献,机器人已退出,请等待人工下载15:20:28 科研通AI机器人(澳大利亚 悉尼)收到请求,开始寻找文献15:20:28 已向机器人发送请求
iamleopeng
Lv5 求助人 发起了本次求助