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 Defect-induced instability mechanisms of sputtered amorphous indium tin zinc oxide thin-film transistors 溅射非晶铟锡锌氧化物薄膜晶体管的缺陷诱导不稳定性机制
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期刊：Journal of Applied Physics 作者：Jinhee Park; You Seung Rim; Chao Li; Jiechen Wu; Mark S. Goorsky; et al 出版日期：2018-01-19 |
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