标题 |
![]() 用于在毫开尔文温度下表征Si/Si0.7Ge0.3量子器件的无冷冻剂扫描栅显微镜
相关领域
显微镜
材料科学
光电子学
量子点
硅
扫描探针显微镜
表征(材料科学)
显微镜
量子阱
纳米技术
光学
物理
激光器
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:AIP Advances 作者:Seong W. Oh; Artem O. Denisov; Pengcheng Chen; J. R. Petta 出版日期:2021-12-01 |
求助人 |
Wil
在
2025-08-29 17:26:28 发布,悬赏 10 积分
|
下载 | 暂无链接,等待应助者上传 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|