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DC response, low-frequency noise, and TID-induced mechanisms in 16-nm FinFETs for high-energy physics experiments 用于高能物理实验的16纳米FinFET中的直流响应、低频噪声和TID诱导机制
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期刊:Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A Accelerators Spectrometers Detectors and Associated Equipment 作者:Stefano Bonaldo; Teng Ma; S. Mattiazzo; A. Basçhirotto; Christian Enz; et al 出版日期:2022-04-18 |
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