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  Recent Progress in Quantum Dot Light‐Emitting Diodes: Degradation Mechanisms and Strategies for Improving Device Stability and Reliability 量子点发光二极管的最新进展：退化机制和提高器件稳定性和可靠性的策略
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材料科学
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加速老化
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计算机科学
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期刊：Advanced electronic materials 作者：Wenxin Lin; Bangxiong Kang; Paul W. M. Blom; Quan Niu; Yuguang Ma 出版日期：2025-10-08 |
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