| 标题 |
Self-aligned blocking integration demonstration for critical sub-30-nm pitch Mx level patterning with EUV self-aligned double patterning 相关领域
极紫外光刻
阻塞(统计)
多重图案
材料科学
纳米技术
光电子学
抵抗
计算机科学
计算机网络
图层(电子)
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Journal of Micro/Nanopatterning, Materials, and Metrology 作者:Angélique Raley; Joe Lee; Jeffrey T. Smith; Xinghua Sun; Richard A. Farrell; et al 出版日期:2018-07-31 |
| 求助人 | |
| 下载 | |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)