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Nondestructive Photoelastic and Machine Learning Characterization of Surface Cracks and Prediction of Weibull Parameters for Photovoltaic Silicon Wafers 光伏硅片表面裂纹的无损光弹性和机器学习表征及威布尔参数预测
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期刊:Journal of Engineering Materials and Technology 作者:Logan Perris Rowe; Alexander J. Kaczkowski; Tung-Wei Lin; Gavin P. Horn; Harley T. Johnson 出版日期:2021-10-08 |
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