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Strategic defect engineering at the buried interface for metal–halide transistors 金属卤化物晶体管掩埋界面的战略性缺陷工程
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期刊:Materials Horizons 作者:Hyo-Won Jang; Go-Eun Kim; Mi-Jeong Kim; Joong Bum Rhim; Tae In Kim; et al 出版日期:2025 |
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(2025-6-4)