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 Artificial Neural Network-Based Screening Method for Short-Circuit Withstand Time in Packaged SiC MOSFETs to Enhance Device Consistency 基于人工神经网络的封装SiC MOSFET短路耐受时间筛选方法以提高器件一致性
相关领域
MOSFET
材料科学
人工神经网络
一致性（知识库）
光电子学
电子工程
电气工程
碳化硅
计算机科学
晶体管
电压
工程类
人工智能
复合材料
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| 其它 |
期刊：IEEE Electron Device Letters 作者：Hengyu Yu; Monikuntala Bhattacharya; Michael Jin; Limeng Shi; Shiva Houshmand; et al 出版日期：2025-01-01 |
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