Toward Optimal Defect Detection in Assembled Printed Circuit Boards Under Adverse Conditions

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标题	Toward Optimal Defect Detection in Assembled Printed Circuit Boards Under Adverse Conditions
网址	http://xplorestaging.ieee.org/ielx7/6287639/10005208/1030910...
DOI	10.1109/access.2023.3330142 doi
其它	期刊：IEEE Access 作者：Mohammad Noroozi; Jalal Ghadermazi; Ankit Shah; José L. Zayas-Castro 出版日期：2023-11-07
求助人	lyk2815 在 2026-05-24 16:52:46 发布自北京，悬赏 10 积分
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