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 Realizing the Accurate Measurements of Thermal Conductivity over a Wide Range by Scanning Thermal Microscopy Combined with Quantitative Prediction of Thermal Contact Resistance 相关领域
扫描热显微术
热导率
热接触电导
材料科学
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期刊：Small 作者：Qingqing Zhang; Wei Zhu; Jie Zhou; Yuan Deng 出版日期：2023-04-17 |
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