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 Wafer-scale mapping of carrier density and mobility with terahertz time-domain ellipsometry 相关领域
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期刊：Optics Letters 作者：Verdad C. Agulto; Toshiyuki Iwamoto; Zixi Zhao; Shuang Liu; Kosaku Kato; et al 出版日期：2025-01-02 |
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