Experimental and Theoretical Study on failure mechanism of Superjunction MOSFET under H3TRB Testing

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标题	Experimental and Theoretical Study on failure mechanism of Superjunction MOSFET under H3TRB Testing
网址	https://doi.org/10.1109/ISPSD59661.2024.10579610
DOI	10.1109/ISPSD59661.2024.10579610 doi
其它	期刊：作者：Tong Zhou; Min Ren; Min Ren; Xin Zhang; Siqi Liang; et al 出版日期：2024-06-02
求助人	杨xiao 在 2026-07-23 10:24:47 发布自重庆，悬赏 10 积分
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