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Mind the Gap—Imaging Buried Interfaces in Twisted Oxide Moirés 相关领域
材料科学
氧化物
无定形固体
表面光洁度
陶瓷
复合氧化物
表面粗糙度
联轴节(管道)
纳米技术
接口(物质)
膜
表征(材料科学)
原子力显微镜
制作
光电子学
光学
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| 其它 |
期刊:Advanced Materials 作者:Harikrishnan K.P.; Xin Wei; Chia‐Hao Lee; Dasol Yoon; Yonghun Lee; et al 出版日期:2026-03-01 |
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(2025-6-4)