| 标题 |
 Enhanced Reliability and Microstructure Control in Dy/Y Co‐Doped BaTiO 3 Ceramics 相关领域
材料科学
微观结构
电介质
陶瓷
复合材料
烧结
电容器
陶瓷电容器
扫描电子显微镜
介电谱
粒度
还原气氛
可靠性（半导体）
压力（语言学）
空位缺陷
晶界
透射电子显微镜
大气温度范围
航程（航空）
矿物学
电阻抗
介电损耗
分析化学（期刊）
晶粒生长
介电强度
温度系数
分光计
光谱学
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期刊：Journal of the American Ceramic Society 作者：Shucheng Liu; Shangchao Chi; Kui Chen; Feng Si; Moke Zhou; et al 出版日期：2026-04-01 |
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