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 Comparison of STM and AFM Measurements of Mo Thin Films with the Kardar–Parisi–Zhang Model 相关领域
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期刊：Technical Physics 作者：L. A. Fomin; И. В. Маликов; V. A. Berezin; А.Э. Рассадин; А. Б. Логинов; et al 出版日期：2022-02-01 |
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