| 标题 |
High-Quality Ceramic Polycrystalline Wafers Fabricated by High-Temperature Sintering for Sensitive and Ultrastable X-Ray Detection 用于灵敏和超稳定X射线检测的高温烧结高质量陶瓷多晶晶片
相关领域
材料科学
陶瓷
薄脆饼
光电子学
微晶
烧结
探测器
X射线探测器
热的
图像分辨率
氧化物
复合材料
工作温度
电介质
耐久性
单晶
粒子探测器
稳健性(进化)
高分辨率
灵敏度(控制系统)
工程物理
纳米技术
|
| 网址 | |
| DOI |
暂未提供,该求助的时间将会延长,查看原因?
|
| 求助人 | |
| 下载 | 暂无链接,等待应助者上传 |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|