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Uncertainty-aware particle segmentation for electron microscopy at varied length scales 不同长度尺度下电子显微镜的不确定性感知粒子分割
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期刊:npj Computational Materials 作者:Luca Rettenberger; Nathan J. Szymanski; Yan Zeng; Jan Schuetzke; Shilong Wang; et al 出版日期:2024-06-12 |
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