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 书籍（章节） X-Ray Diffraction Analysis of Diffusion in Thin Films 薄膜中扩散的X射线衍射分析
相关领域
材料科学
扩散
衍射
X射线
光学
热力学
物理
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期刊：Treatise on materials science and technology 作者：Masanori Murakami; Armin Segmüller; K. N. Tu 出版日期：1988-01-01 |
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