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Development of a new, fully automated system for electron backscatter diffraction (EBSD)-based large volume three-dimensional microstructure mapping using serial sectioning by mechanical polishing, and its application to the analysis of special boundaries in 316L stainless steel 相关领域
电子背散射衍射
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材料科学
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期刊:Review of Scientific Instruments 作者:Shao‐Pu Tsai; Peter Joachim Konijnenberg; Iván Gónzalez; Samuel Hartke; Thomas Griffiths; et al 出版日期:2022-09-01 |
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