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Monolithically Integrated Bidirectional Gate ESD Protection Scheme of p-GaN Power HEMT by Dual-Gate Device Technology 基于双栅器件技术的p-GaN功率HEMT单片集成双向栅极ESD保护方案
相关领域
高电子迁移率晶体管
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期刊:IEEE Transactions on Power Electronics 作者:Yanfeng Ma; Sheng Li; Mingfei Li; Weihao Lu; Lixi Wang; et al 出版日期:2024-11-08 |
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