| 标题 |
 Mask SEM image contour extraction using a graphic-data-stream-integrated nnU-Net model 相关领域
人工智能
计算机视觉
计算机科学
渲染（计算机图形）
分割
偏移量（计算机科学）
计量学
噪音（视频）
稳健性（进化）
图像分割
等高线
校准
模式识别（心理学）
活动轮廓模型
特征提取
直线（几何图形）
图像分辨率
图像处理
光学接近校正
临界尺寸
轮廓仪
降噪
深度学习
边缘检测
图像噪声
图像质量
覆盖
边界（拓扑）
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| 网址 | |
| DOI |
10.1117/1.jmm.24.4.041408
doi
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| 其它 |
期刊：Journal of Micro/Nanopatterning, Materials, and Metrology 作者：Yingying Shang; Chong Wang; Juan Wei; Yu Mu; Qingchen Cao; et al 出版日期：2025-11-12 |
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(2025-6-4)
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