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Simulation Methods of Multi-physics Effects in Nano-scale CMOS 纳米CMOS多物理场效应的模拟方法
相关领域
CMOS芯片
可靠性(半导体)
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存水弯(水管)
电子工程
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期刊: 作者:Xiaoyan Liu; Mengqi Fan; Yuanzhao Hu; Haoling Li; Fei Liu; et al 出版日期:2022-12-03 |
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