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 Effect of the Pressure Exerted by Probe Station Tips in the Electrical Characteristics of Memristors 相关领域
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期刊：Advanced Electronic Materials 作者：Ying Zuo; H. Lin; Jingchun Guo; Yue Yuan; Hang He; et al 出版日期：2020-01-31 |
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(2025-6-4)
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