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Record-Low R ON,SP and R ON ×Q G in Regrowth-Free Low-Voltage p-GaN Gate HEMTs on 200-mm GaN-on-Si Platform |
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期刊:2026 IEEE 38th International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs (ISPSD) 作者:Yan Cheng; Yu Shi; David Zhou; Xinying Huang; Yu Zhang; et al 出版日期:2026-05-24 |
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