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标题
First measurements with monolithic active pixel test structures produced in a 65 nm CMOS process
相关领域
CMOS芯片 材料科学 过程(计算) 像素 光电子学 电气工程 光学 计算机科学 物理 工程类 操作系统
网址
DOI
10.1088/1748-0221/19/02/c02017 doi
其它 期刊:Journal of Instrumentation
作者:M. D. Buckland; the ALICE collaboration
出版日期:2024-02-01
求助人
ZHANGLinlin 在 2026-01-13 07:29:53 发布自云南,悬赏 10 积分
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