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Total-Ionizing-Dose Effects at Ultrahigh Doses in AlGaN/GaN HEMTs AlGaN/GaN HEMTs超高剂量下的总电离剂量效应
相关领域
跨导
钝化
阈值电压
材料科学
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接受者
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电气工程
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期刊:IEEE Transactions on Nuclear Science 作者:Stefano Bonaldo; En Xia Zhang; S. Mattiazzo; A. Paccagnella; Simone Gerardin; et al 出版日期:2023-01-16 |
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