| 标题 |
 Multiscale Investigation of Silicon Anode Li Insertion Mechanisms by Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometer Imaging Performed on an In Situ Focused Ion Beam Cross Section 通过在现场聚焦离子束横剖面上进行的飞行时间二次离子质量计成像对硅阳极锂插入机制进行多尺度研究
相关领域
阳极
硅
材料科学
锂（药物）
二次离子质谱法
离子
粒子（生态学）
透射电子显微镜
电极
扫描电子显微镜
石墨
离子束
分析化学（期刊）
聚焦离子束
纳米技术
化学
光电子学
复合材料
地质学
内分泌学
海洋学
物理化学
有机化学
医学
色谱法
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：Chemistry of Materials 作者：Arnaud Bordes; Éric De Vito; Cédric Haon; Adrien Boulineau; Alexandre Montani; et al 出版日期：2016-02-10 |
| 求助人 | |
| 下载 | 求助已完成，仅限求助人下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
浮游
无极微光
看不了一点文献
Zx_1993
chenqiumu
meteor
彭于彦祖
bmhs2017
小杭76
凤凰
Criminology34
zcl
小青椒
Shmilykk
avalanche
GingerF
TYMY
寻道图强
殷勤的紫槐
遇上就这样吧
pluto
小Y
ceeray23
kentonchow
皖公网安备34019202002308
