| 标题 |
First-principles dopant screening to suppress shallow traps in HfO2 charge-trap layers for 3D nand flash memory |
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Journal of Applied Physics 作者:Ji-yeon Lee; Yun-Heub Song 出版日期:2026-07-15 |
| 求助人 | |
| 下载 | 求助已完成,仅限求助人下载。 |
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)