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SiO2‐GaN Interface Improvement by Wet Cleaning and In Situ Annealing for GaN MOS Transistors |
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期刊:physica status solidi (a) 作者:Mirjam Henn; Johannes Ziegler; Christian Huber; Humberto Rodriguez‐Alvarez; Nando Kaminski 出版日期:2024-07-02 |
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(2025-6-4)