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[高分]
 Unsupervised novelty pattern classification of shmoo plots for visualizing the test results of integrated circuits 用于集成电路测试结果可视化的shmoo图的无监督新颖性模式分类
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期刊：Expert Systems with Applications 作者：Hyun Soo Shin; Young‐Ju Kim; Chang Ouk Kim; Sung Ho Park 出版日期：2022-09-01 |
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