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 Weibull-Fréchet random path length model for avalanche gain and noise in photodiodes 光电二极管雪崩增益和噪声的Weibull-Fréchet随机路径长度模型
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期刊：Journal of Physics D Applied Physics 作者：Duu Sheng Ong; Ai Hui Tan; Kan Yeep Choo; Keat Hoe Yeoh; J.P.R. David 出版日期：2021-10-21 |
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