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![]() 电子壳层结构对40-300keV离子在4H-SiC中沟道过程中距离分布的影响
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期刊:Journal of Applied Physics 作者:Margareta K. Linnarsson; Lasse Vines; Anders Hallén 出版日期:2021-08-16 |
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荒野小蚂蚁
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2025-08-18 20:12:52 发布,悬赏 10 积分
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