SiC MOSFET Reliability Assessment Under Accelerated Dynamic Reverse Bias Methodology

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标题	SiC MOSFET Reliability Assessment Under Accelerated Dynamic Reverse Bias Methodology 加速动态反向偏压下SiC MOSFET可靠性评估
网址	http://dx.doi.org/10.30420/566541046
DOI	10.30420/566541046 doi
求助人	研友_yLpYkn 在 2025-07-30 20:48:36 发布自江苏，悬赏 10 积分
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