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Low thermal boundary resistance and reduced junction temperature in GaN HEMTs via AlN-mediated top-side diamond integration |
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期刊:Semiconductor Science and Technology 作者:Kexin Deng; Xinhua Wang; Junjun Wei; Guanjun Jing; Han Li; et al 出版日期:2026-04-01 |
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(2025-6-4)