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  A Reliability Study of Non-uniform Si TFET with Dual Material Source: Impact of Interface Trap Charges and Temperature 双材料源非均匀Si TFET的可靠性研究：界面陷阱电荷和温度的影响
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期刊：Silicon 作者：Jagritee Talukdar; Kavicharan Mummaneni 出版日期：2021-07-05 |
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