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 Improvement of Hump Phenomenon of Thin-Film Transistor by SiN<SUB>X</SUB> Film 相关领域
薄膜晶体管
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期刊：IEICE Transactions on Electronics 作者：Takahiro Kobayashi; Naoto Matsuo; Akira Heya; Shin Yokoyama 出版日期：2014-01-01 |
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